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科研成果 |
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| 专利名称: |
全反射单发二阶自相关测量仪
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| 专利类别: |
发明
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| 申请号: |
CN02112076.5
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| 申请日期: |
2002-6-14 0:00:00
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| 专利号: |
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| 第一发明人: |
王兴涛;李儒新;印定军
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| 其它发明人: |
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| 国外申请日期: |
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| 国外申请方式: |
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| 专利授权日期: |
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| 所属部门: |
强场激光物理国家重点实验室
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| 实施情况: |
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| 附件: |
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| 专利摘要: |
一种全反射单发二阶自相关测量仪，适用于精确测量飞秒激光脉冲的时间宽度。包括待测光源发射的待测光束经过第一小孔光阑后，入射到顶角为90°分光棱镜上，分光棱镜的两直角反射面将光束分成两束光，再分别经过两反射镜的反射后入射到倍频晶体上。经过倍频晶体产生干涉倍频后，经过第二小孔光阑入射到输出连接到示波器上的探测器上。与在先技术相比，本发明采用分光棱镜的两直角反射面作为分光元件，避免了在先技术中使用透射元件所带来的色散影响，提高了测量精度。结构简单，容易操作。
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| 其它备注: |
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